Skip to content

PCB单端带状线(非对称)阻抗计算器

PCB单端带状线(非对称)阻抗计算器
线宽(w):

铜厚(t):
较小介质厚度(h):
较大介质厚度(h1):
介电常数(er): 
OHM
说明:以上计算结果仅供参考

单端带状线(非对称)阻抗计算器介绍

单端带状线(非对称)阻抗计算器是用于估算PCB内层非对称带状线特征阻抗的工具。非对称带状线指信号线位于两层参考平面之间,且上下介质厚度不同的传输线结构。其阻抗计算需综合考虑线宽、铜厚、介质厚度及材料介电常数等参数,以确保高速信号传输的完整性。

参数名词解释

  1. 线宽(w)
    信号走线的物理宽度,单位通常为mil或mm。线宽越大,阻抗越低,但需平衡制造工艺限制与信号损耗。

  2. 铜厚(t)
    走线铜箔的厚度,常用单位有盎司(oz/in²)、mil或μm。铜厚增加会略微降低阻抗,同时影响趋肤效应损耗。

  3. 较小介质厚度(h)
    信号线到较近参考平面的距离,单位为mil或mm。h越小,阻抗越低,且对阻抗的敏感度更高。

  4. 较大介质厚度(h1)
    信号线到较远参考平面的距离。非对称结构的h1与h不同,需分别输入。h1增加会略微提升阻抗,但影响程度小于h。

  5. 介电常数(er)
    基板材料的相对介电常数,表征介质对电场的响应能力。er值越大,信号传播速度越慢,阻抗越低(如FR-4的er≈4.2-4.5)。

计算公式

非对称带状线阻抗的常用经验公式基于 Wadell方程,其简化形式为:

Z0=80εrln(1.9(2h+t)0.8w+t)(1h4h1)

其中:

  • Z0:特性阻抗(Ω)
  • εr:介电常数
  • w,t,h,h1:如上述参数定义

该公式适用于非对称结构,且需注意其适用范围(如h1 > h)。

常见问题

  1. 参数输入误差导致结果偏差
    线宽和介质厚度的测量误差会显著影响阻抗。例如,线宽偏差±10%可能导致阻抗变化±5%。

  2. 制造工艺影响
    蚀刻因子(铜箔侧蚀)会导致实际线宽小于设计值,需在计算时预留补偿(如通过“蚀刻系数”调整)。

  3. 频率依赖性
    介电常数(er)随频率变化,高频信号(>1GHz)需使用频变模型或场求解器(如Altium Designer、HFSS)以提高精度。

  4. 材料参数不匹配
    不同厂商的基板材料(如PP半固化片)参数差异较大,需从厂商Datasheet获取实际Dk值。

  5. 阻焊层影响
    表面阻焊层(如绿油)会略微降低阻抗,但多数在线计算器未包含此参数,需手动修正或使用专业工具。